Cz En

Pracoviště

Laboratoř nanoindentačních zkoušek

Ing. Josef Šepitka Ph.D.

Vedoucí:

Pracovníci:

Popis:

Princip nanoindentace spočívá ve vtlačování diamantového hrotu do materiálu při současném zaznamenávání aplikované síly a hloubky vpichu. Z naměřené indentační křivky (síla vs. hloubka) se standardně získává elastický modul a mikrotvrdost testovaného materiálu. Metoda indentace se v současné době stále častěji používá k mechanickým zkouškám materiálového inženýrství, což podnítilo vznik mezinárodních norem ISO 14577 part 1-4 (instrumented indentation test), které při našich pracích respektujeme.

Naše pracoviště disponuje nanoindentačním systémem Hysitron TriboIndenterTMTI 950. Protože jsme oficiální demo laboratoří firmy Hysitron, Inc. s profesionálně vyškolenou obsluhou můžete si být jisti odborně provedeným měřením s přesnými a spolehlivými výsledky. Rádi Vám poskytneme jakékoli bližší informace o následujících možnostech našeho systému a odbornou konzultaci k Vašim konkrétním požadavkům.

Možnosti systému TriboIndenterTM

Quasistatická nanoindentace: Meření elastických modulů, tvrdosti, lomové houževnatosti a dalších mechanických vlastností pomocí nanoindentace.

 

XPM - ultrarychlé mapování mechanických vlastností. 500x rzchlejsí nežli kvazistatická nanoindentace.

Nanometrická dynamická mechanická analýza (nanoDMA): Vyšetřování časově závislých vlastností materiálů s použitím techniky dynamické mechanické analýzy (DMA), tj. zatěžování harmonicky buzenou silou a snímání deformační odezvy materiálu. Navrženo speciálně pro polymery a biomateriály.

 

CMX - hloubové profily mechanických vlastností vytvořené za pomocí módu nanoDMA III

Scratch testy: Pozorování a kvantifikace odolnosti povrchu, kritických sil pro odtržení nanesené tenké vrstvy a koeficientů tření.

 

 

Scanning Probe Microscopy imaging (SPM): Zobrazování topografie vzorku in-situ pomocí hrotu nanoindentoru. Z naskenovaných obrázků lze získat informace o drsnosti povrchu. Piezoscanner umožňuje umístění vpichu s přesností <10nm.

 

Modulus mapping: Princip spočívá v oscilaci hrotu při skenování povrchu materiálu. Analýza naměřených dat je stejná jako pro metodu nanoDMA. Výstupem je grafické znázornění storage a loss modulu naskenovaného povrchu.

 

ScanningWear: Při zvýšené kontaktní síle mezi hrotem a povrchem dochází k odběru materiálu. Při opětovném naskenování oblasti při nízké kontaktní síle lze sledovat a kvantifikovat opotřebení.

 

Fluorescenční mikroskopie

Ramanova spektroskopie


Spolupráce:

Projekty v realizaci